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                      BSD-PM高性能微孔測(cè)試

        
    BSD-PM高性能微孔測(cè)試
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PM
        
        
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        高性能高性能微孔測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
        
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                      BSD-PM高性能微孔測(cè)試儀

        
    BSD-PM高性能微孔測(cè)試儀
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PM
        
        
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        高性能高性能微孔測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
        
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                      BSD-PM高性能微孔分析

        
    BSD-PM高性能微孔分析
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PM
        
        
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        高性能高性能微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
        
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                      BSD-PM高性能微孔分析儀

        
    BSD-PM高性能微孔分析儀
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PM
        
        
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        高性能高性能微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
        
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                      BSD-PMBET比表面及孔隙度檢測(cè)

        
    BSD-PMBET比表面及孔隙度檢測(cè)
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PM
        
        
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        BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
        
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                      BSD-PSBET比表面及孔隙度檢測(cè)儀

        
    BSD-PSBET比表面及孔隙度檢測(cè)儀
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PS
        
        
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        BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
        
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                      BSD-PSM珍珠巖高精度微孔分析

        
    BSD-PSM珍珠巖高精度微孔分析
    
        
        
        更新時(shí)間：2024-10-25
        
        
        型號(hào)：BSD-PSM
        
        
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        珍珠巖高精度微孔分析，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
        
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